Las principales diferencias entre la prueba de iluminación CISPR 15 estándar: versiones de 2018 y 2013

Hay muchos comentarios de clientes de que sus luminarias LED no pueden pasar la prueba de radiación EMI del certificado CE (30-300MHz) en el año 2019, pero es la misma que se pudo pasar el año pasado. ¿Por qué sucede esto? La razón principal es que el nuevo estándar de prueba EMI se actualizó para CISPR15:2018. Prueba EMI es el más importante y difícil de probar para las luminarias LED. Este artículo LISUN ingeniero nos llevará a estudiar el nuevo estándar CISPR15:2018 comparado a CISPR15: 2013.

La última versión del estándar internacional para equipos de iluminación CISPR 15: 2018 se lanzó el 16 de febrero de 2018. Haga clic en el siguiente para descargar el nuevo estándar:

En comparación con la versión anterior CISPR 15: 2013 + A1: 2015, los principales cambios son los siguientes:

1. Se eliminaron los requisitos de la prueba de pérdida de inserción y el Apéndice A original relacionado;

2. Tabla 4, Tabla 5, Tabla 6 agregan requisitos de tabla de límite de interferencia de conducción para puertos de alimentación para lámparas ELV y cables que no sean puertos de alimentación;

3. Realizó los siguientes cambios para el valor de interferencia de conducción de las interfaces de red cableadas (consulte los detalles de la Tabla2 y la Tabla3 estándar):

R: El terminal de control actualiza el nombre a las interfaces de red cableadas;
B: Aumentó el límite para realizar pruebas con la sonda de corriente, y se establece claramente que, siempre que se satisfaga la corriente de perturbación o el voltaje de perturbación, puede considerarse que la interferencia de conducción de la interfaz de red efectiva cumple con los requisitos estándar;

4. Se realizaron los siguientes cambios a los límites de interferencia de conducción de las interfaces cableadas locales (verifique los detalles de la Tabla5 y la Tabla6 estándar).

R: El terminal de carga actualiza el nombre a los puertos locales con cable;
B: Aumentó el límite para realizar pruebas con la sonda de corriente, y se establece claramente que, siempre que se satisfaga la corriente de perturbación o el voltaje de perturbación, se puede considerar que la interferencia de conducción de los puertos locales con cable cumple con los requisitos estándar;

5. Cite un nuevo método de prueba para la perturbación de campo radiado: el CDNE método, que reemplaza el método CDN original;

6. Especifica si se utiliza el método CDN para evaluar las mediciones de perturbaciones de campo radiado, la frecuencia interna de trabajo del producto debe ser ≤ 30MHz, y el tamaño del producto debe controlarse dentro de 3m * 1m * 1m (Largo * Ancho * Altura).

7. El límite (QP / Cuasi-pico) del método CDNE es más estricto;

8. El diseño de prueba del método CDNE:

9. Además del método CDNE, las mediciones de perturbaciones de campo radiado también aumentan los requisitos de límite de 300MHz ~ 1GHz de la siguiente manera (QP / cuasi-pico, cuarto oscuro de media onda de 3 m)

Frecuencia de prueba （MHz）	Límite dB (uV / m)
30 a 230	40
230 a 1000	47

10. Disposición de perturbaciones de campo radiado en el espacio, agregando un CDNE para alimentar el EUT a probar:

11. Para las mediciones de perturbaciones de campo irradiado de antena de cuadro, se agregó que se puede probar un producto nuevo con un tamaño de> 1.6 m de acuerdo con el método en CISPR16-1-4: Pruebe en un entorno de 3 m con una antena de cuadro de 60 cm en un campo abierto o en una habitación oscura de media onda. Este método de prueba puede reemplazar la prueba de antena de bucle de 3 my 4 m de tamaño;

Los límites de este método de prueba son los siguientes (QP / cuasi-pico):

Frecuencia de prueba （MHz）	Límite dB （uV / m）
0.009 a 0.070	69
0.070 a 0.150	69 a 39
0.150 a 4.0	39 a 3
4.0 a 30.0	3

12. La apertura del panel de carcasa cónico se ha cambiado de la siguiente manera:

13. Para lámparas con balasto automático que usan la tapa de bayoneta GU10, la carcasa cónica o la tapa de bayoneta en sí deben conectarse al PE del AMN durante las mediciones de perturbaciones realizadas, como se muestra de la siguiente manera:

14. Se corrigió el tiempo de envejecimiento requerido para probar algunas de las luminarias, y se especificó claramente que las luminarias que utilizan tecnología LED / OLED, no requieren requisitos de envejecimiento antes de las pruebas.

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