IEC 62115 Cláusula 19 Sistema de prueba de radiación y riesgos similares para juguetes eléctricos

El sistema de pruebas de radiación y riesgos similares LS-IEC62115C19 para juguetes eléctricos cumple plenamente con la cláusula 19 de la norma IEC 62115. Esta cláusula regula específicamente la seguridad fotobiológica de las fuentes de luz en juguetes, con el objetivo de prevenir posibles riesgos, como daños fotoquímicos y térmicos, en los ojos y la piel de los niños causados ​​por estas fuentes.

Cumpliendo con los requisitos fundamentales de la cláusula 19 de la norma IEC 62115, el sistema de prueba de radiación y riesgos similares LS-IEC62115C19 para juguetes eléctricos establece un sistema de detección profesional. Puede medir con precisión parámetros clave de diversos dispositivos emisores de luz de juguete, como la intensidad de la radiación, la irradiancia, el ángulo de expansión fotocrómica, la longitud de onda máxima, la longitud de onda dominante y el ancho de banda. Al simular los escenarios de iluminación en los que los niños usan juguetes habitualmente, evalúa indicadores de seguridad fotobiológica, como el nivel de riesgo de luz azul de las fuentes de luz y la intensidad de la radiación ultravioleta. Equipado con un módulo de análisis espectral de alta precisión y una unidad de control automático, el sistema puede capturar rápidamente los cambios en las características fotobiológicas de las fuentes de luz en diferentes condiciones de funcionamiento. Por ejemplo, puede monitorizar en tiempo real la estabilidad espectral de los juguetes emisores de luz durante el funcionamiento continuo y el impacto de las fluctuaciones de frecuencia e intensidad de la luz de las fuentes de luz parpadeantes en la visión de los niños.

Basándose en la estricta implementación de la Cláusula 19 de IEC 62115 a través de este sistema de prueba, los fabricantes de juguetes y las instituciones de prueba pueden determinar científicamente si las fuentes de luz de los juguetes cumplen con los requisitos de seguridad fotobiológica, evitando riesgos de seguridad causados ​​por defectos de diseño de la fuente de luz y construyendo una línea de defensa técnica para la seguridad de los ojos y la piel de los niños cuando entran en contacto con juguetes emisores de luz.

Configuración del sistema:

Caracteristicas:
1.1 Sistema de prueba de riesgo fotobiológico UV
• Plataforma de medición espectral de matriz de alta precisión con estructura de TC sin cruce;
• Rango espectral: 200 nm ~ 400 nm;
• Intervalo del espectro de medición: 1 nm;
• Precisión de longitud de onda: 0.2 nm
• Rango dinámico de medición ultraalto: 100,000:1

1.2 Sistema de prueba de peligro fotobiológico visible en el infrarrojo cercano
• Plataforma de medición espectral de matriz de alta precisión con estructura de TC sin cruce;
• Rango espectral: 400 nm ~ 1000 nm;
• Intervalo del espectro de medición: 1 nm;
• Precisión de longitud de onda: 0.2 nm
• Rango dinámico de medición ultraalto: 100,000 1:100,000 Rango dinámico de medición alto: 1 XNUMX:XNUMX

1.3 Sistema de prueba de peligro fotobiológico en el infrarrojo cercano
• Plataforma de medición espectral de matriz de alta precisión con estructura de TC sin cruce;
• Rango espectral: 1000 nm ~ 1700 nm;
• Intervalo del espectro de medición: 1 nm;
• Precisión de longitud de onda: 0.4 nm
• Rango dinámico de medición ultraalto: 100,000:1

1.4 Módulo de prueba de parpadeo
• Rango espectral: 300 nm ~ 1100 nm;
• Velocidad de muestreo más rápida: 100 kS/s;

2.1 Etapa de rotación de muestra bidimensional programable
• Tamaño máximo de muestra: 150 mm, 5 kg
• Ángulo de rotación de la muestra: -90°~+90° (horizontal), -90°~+90° (vertical)

2.2 Plataforma del sistema
• Conmutación de sondas de medición controlada por programa
• Ajuste controlado por programa de la distancia de medición: 10 mm ~ 200 mm

3.1 Fuente estándar de irradiación UV
• Rango espectral: 200 nm ~ 400 nm
• Trazable a NIM, Instituto Nacional de Metrología de China

3.2 Fuente estándar de irradiancia visible e infrarroja cercana
• Rango espectral: 380 nm ~ 1650 nm
• Trazable a NIM, Instituto Nacional de Metrología de China

IEC 62115:2017 Cláusula 19