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07 Mar, 2025 Vistas 16 Autor: cereza shen

Simuladores ESD HBM/MM para pruebas de semiconductores y circuitos integrados: una revisión exhaustiva de los LISUN ESD-883D

Abstracto:

La descarga electrostática (ESD) es una de las principales causas de fallos en los dispositivos semiconductores y circuitos integrados (CI). En la industria de los semiconductores, las pruebas de vulnerabilidad a las ESD son esenciales para garantizar la durabilidad y la fiabilidad de los componentes. Este artículo explora la importancia de los simuladores de ESD de modelos de cuerpo humano (HBM) y modelos de máquina (MM), centrándose en los LISUN ESD-883D Simuladores ESD HBM / MM, que está diseñado específicamente para probar circuitos integrados. Analizaremos las características, los principios de funcionamiento y las ventajas de estos simuladores en las pruebas ESD, además de brindar información detallada sobre sus especificaciones técnicas y aplicaciones en las pruebas de semiconductores.

1. Introducción

En la fabricación y prueba de dispositivos semiconductores y circuitos integrados (CI), la descarga electrostática (ESD) es una de las causas más comunes de falla. La ESD puede causar daños inmediatos y una degradación a largo plazo del rendimiento de los dispositivos. La necesidad de probar la tolerancia a ESD de estos dispositivos ha llevado al desarrollo de equipos especializados, como los simuladores de ESD de modelos de cuerpo humano (HBM) y modelos de máquina (MM).

Este artículo se centrará en el papel de los simuladores ESD HBM y MM en la prueba de dispositivos semiconductores y circuitos integrados, destacando LISUN ESD-883D Simulador ESD HBM/MM. El simulador está diseñado específicamente para evaluar la resistencia a la descarga electrostática de los circuitos integrados, lo que proporciona un entorno de prueba controlado y reproducible.

2. Comprensión de los modelos ESD: HBM y MM

Las descargas electrostáticas pueden presentarse de diversas formas, pero los modelos HBM y MM son los más utilizados para probar dispositivos semiconductores y circuitos integrados. Ambos modelos simulan diferentes eventos de ESD en función de la fuente de descarga y los niveles de energía asociados.

• Modelo del cuerpo humano (HBM): el HBM es un modelo ampliamente utilizado que simula el evento de ESD causado por la interacción humana con dispositivos electrónicos. Se basa en el supuesto de que el cuerpo de una persona, cargado a un cierto voltaje, se descarga cuando entra en contacto con un dispositivo. El HBM generalmente consiste en un capacitor de 100 pF cargado a un cierto voltaje, que se descarga a través de una resistencia de 1.5 kΩ en el dispositivo bajo prueba (DUT). El HBM simula la energía de ESD que experimentaría un dispositivo al ser tocado por un humano.

Parámetros clave del HBM:
Condensador: 100 pF
Resistencia: 1.5 kΩ
Voltaje típico: 0-8 kV

• Modelo de máquina (MM): el MM es otro modelo de uso común que simula el evento de ESD causado por el contacto con máquinas o herramientas conductoras. El MM se basa en el supuesto de que la descarga se produce desde una máquina o herramienta de metal a un dispositivo bajo prueba, y utiliza un condensador de 200 pF con un cortocircuito directo (resistencia de 0 Ω) para producir la descarga. Este modelo generalmente da como resultado tiempos de subida más rápidos y corrientes pico más altas en comparación con HBM.

Parámetros clave del MM:
Condensador: 200 pF
Resistencia: 0 Ω
Voltaje típico: 0-500 V

3. Importancia de los simuladores ESD HBM/MM para pruebas de semiconductores

La industria de semiconductores enfrenta una presión constante para mejorar la confiabilidad y robustez de los dispositivos, especialmente en una era de miniaturización en la que los circuitos integrados son cada vez más sensibles a las descargas electroestáticas. Probar los dispositivos semiconductores para determinar su susceptibilidad a las descargas electroestáticas es crucial para minimizar las fallas en campo, extender la vida útil del producto y garantizar el cumplimiento de las normas de la industria.

• Validación del diseño: los simuladores ESD de HBM y MM ayudan a los fabricantes de semiconductores a validar sus diseños, garantizando que los dispositivos puedan soportar posibles eventos ESD durante el funcionamiento.
• Garantía de calidad: los simuladores de ESD garantizan que los productos semiconductores cumplan con los estándares de la industria, como los establecidos por JEDEC e IEC, para la tolerancia a ESD.
• Análisis de fallos: Los simuladores de ESD también se utilizan para identificar fallos de diseño que podrían hacer que los dispositivos sean más susceptibles a las descargas electrostáticas.

Simuladores ESD HBM/MM para pruebas de semiconductores y circuitos integrados: una revisión exhaustiva de los LISUN ESD-883D

ESD-883D
Probador IC de descarga electrostática (ESD)

4. los LISUN ESD-883D Simulador ESD HBM/MM para pruebas de circuitos integrados

Los LISUN ESD-883D El simulador de ESD HBM/MM es una herramienta de vanguardia diseñada para probar la resiliencia a ESD de dispositivos semiconductores y circuitos integrados. Este simulador puede generar pulsos HBM y MM, lo que lo convierte en una solución ideal para pruebas ESD integrales en la industria de semiconductores.

Características de la LISUN ESD-883D:

• Admite modelos HBM y MM para realizar pruebas flexibles
• Tensión ajustable de 0 a 15 kV para HBM y de 0 a 500 V para MM
• Múltiples modos de prueba, incluidos pulsos simples, continuos y automáticos.
• Precisión en la repetición de pulsos, tiempo de subida y duración de descarga.
• Funciones de seguridad que incluyen protección contra sobretensión y detección de cortocircuitos.
• Alta precisión en la medición y análisis de eventos ESD

Especificaciones técnicas:

Modelo LISUN ESD-883D
Voltaje de pulso HBM 0 – 15 kilovoltios
Voltaje de pulso MM 0 - 500 V
Condensador (HBM) 100 pF
Condensador (MM) 200 pF
Resistencia de descarga 1.5 kΩ (HBM) / 0 Ω (MM)
Tipo de pulso de prueba Sencillo, Continuo, Automático
Duración del pulso Ajustable, 100 ns – 1 μs
Exactitud ± 1%

Principio de funcionamiento:

Los LISUN ESD-883D El simulador funciona cargando un capacitor a un voltaje específico y descargándolo en el dispositivo bajo prueba. El simulador está diseñado para reproducir eventos de descarga electrostática realistas con un control preciso sobre la duración del pulso, el voltaje y el tiempo de subida. Los pulsos HBM y MM se generan según estándares de la industria, lo que garantiza que los dispositivos se prueben en condiciones que reflejen con precisión los escenarios de ESD del mundo real.

5. Aplicaciones en pruebas de semiconductores y circuitos integrados

Los LISUN ESD-883D Se utiliza principalmente en las siguientes aplicaciones:

• Pruebas de circuitos integrados y semiconductores: el simulador está diseñado para evaluar la resistencia a la descarga electrostática de circuitos integrados, transistores, diodos y otros componentes semiconductores.
• Pruebas de cumplimiento: ayuda a los fabricantes a garantizar que sus productos cumplan con los estándares globales de tolerancia a ESD, incluidos los estándares JEDEC, IEC e ISO.
• Análisis de fallas: al aplicar pulsos ESD a un DUT, los fabricantes pueden simular condiciones de ESD del mundo real y observar modos de falla potenciales, lo que les permite realizar los ajustes de diseño necesarios.
• Desarrollo de productos: El LISUN ESD-883D Ayuda a los ingenieros a identificar debilidades en sus diseños de semiconductores y a realizar mejoras para aumentar la robustez ESD.

6. Conclusión

Los simuladores ESD de HBM y MM son herramientas esenciales para probar la resiliencia de los dispositivos semiconductores y circuitos integrados frente a descargas electrostáticas. LISUN ESD-883D Simuladores ESD HBM / MM proporciona una solución completa, flexible y precisa para probar circuitos integrados y garantizar que cumplan con los estándares de la industria en cuanto a tolerancia a descargas electrostáticas. Con sus funciones avanzadas, control preciso y rendimiento robusto, el LISUN ESD-883D Es un activo invaluable en el proceso de prueba de semiconductores.

Referencias

“Descarga electrostática (ESD) y dispositivos semiconductores”, Transacciones IEEE sobre confiabilidad de dispositivos y materiales.
IEC 61000-4-2: Norma de pruebas de inmunidad a descargas electrostáticas.
LISUN ESD-883D Información del producto, LISUN Grupo. 

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