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Banco de pruebas de envejecimiento de cargadores/adaptadores (temperatura constante)

Ningún producto: SY65240T

  • Especificaciones
  • El SY65240T El banco de pruebas de envejecimiento a temperatura constante de la serie está diseñado para diversos productos de alimentación, como cargadores, adaptadores de corriente y cargadores inalámbricos. Facilita el envejecimiento acelerado a nivel de fábrica y las pruebas de fiabilidad y durabilidad en todo el espectro de fuentes de alimentación (desde baja hasta alta tensión y desde baja hasta alta corriente), a la vez que admite los protocolos de carga rápida más comunes, como QC, PD, FCP, SCP, PPS y AFC. Se utiliza ampliamente para la inspección de calidad en la producción en masa y la verificación de I+D en el sector de la carga de productos electrónicos de consumo.

    Equipado con un sistema de monitoreo basado en PC, el SY65240T Esta serie permite personalizar los parámetros de carga y la adquisición de datos en tiempo real de voltaje, corriente y potencia. Admite los modos de carga de corriente constante (CC) y voltaje constante (CV), y el modo CC permite la conexión en paralelo de canales para pruebas de alta potencia. El sistema cuenta con mecanismos de alarma y protección automáticos duales contra sobretemperatura y humo, y admite secuencias de ciclos de encendido y apagado personalizables, así como la conmutación automática de carga. La unidad utiliza una estructura de estanterías de acero laminado en frío de seis capas, lo que equilibra la flexibilidad de las pruebas, la seguridad operativa y la eficiencia energética.

    Especificaciones técnicas:

    LISUN Modelo SY65240T-65W SY65240T-100W SY65240T-150W SY65240T-600W
    Potencia de un solo canal 65 W 100 W 150 W 600 W
    Número de canales de carga 240 canales 192 canales 192 canales 96 canales
    Rango de tensión de carga 1 ~ 100V 1 ~ 100V 3 ~ 65V 3 ~ 120V
    Rango de corriente de carga 0.05~5 A/canal 0.05~10 A/canal 0.05~5 A/canal 0.05~30 A/canal
    Precisión de carga ±(1%+0.1FS)
    Tipo de módulo de carga Consumo de energía De ahorro de energía 
    Modo de salida de carga CC Corriente constante, CV Voltaje constante
    Espacio del área de pruebas 6 niveles, altura*ancho por nivel = 170 mm*360 mm
    Control de temperatura en la zona de prueba Temperatura ambiente de hasta 45 °C ±5 °C; puertas plegables de vidrio templado de doble apertura; ventilación de extracción para condiciones de sobretemperatura; calefacción a baja temperatura.
    Compatible con protocolos de carga rápida. QC, PD, FCP, SCP, PPS, AFC, etc.
    Interfaz de entrada del EUT Enchufe universal de CA (o personalizado según los requisitos del cliente)
    Interfaz de salida de carga USB, Tipo C (o personalizado según los requisitos del cliente)
    Sistema de control Software de monitorización para PC y pruebas de funcionamiento de fuentes de alimentación especializadas (chino/inglés): Permite configurar y monitorizar los valores de tensión y corriente del equipo bajo prueba, así como realizar pruebas de temporización de encendido/apagado programables.
    Voltaje de entrada del gabinete envejecido Trifásico 380~415V (personalizable a trifásico 220~240V y LISUN modelo es SY65240T-65W-EE. UU.)
    Prueba de envejecimiento por sobretensión multivoltaje del EUT Se encuentra disponible un módulo de control de transformador opcional para pruebas de envejecimiento por sobretensión ON/OFF multivoltaje en el EUT. Especificaciones para LISUN Modelo LS-RT30KVA-3G: 1. 30 kVA es la potencia de salida del transformador (opciones de 40/50/60 kVA disponibles); potencia requerida = potencia de carga de un solo canal × número de canales ÷ eficiencia de conversión del EUT (eficiencia de conversión = potencia de salida / potencia de entrada, típicamente >80%). 2. “3G” indica tres conjuntos de tensiones de sobretensión: los ajustes estándar son 90 V, 110 V y 220 V (personalizables). 3. La entrada estándar es trifásica de 380–415 V; la entrada trifásica de 220–240 V está disponible bajo pedido (Modelo: LS-RT30KVA-3G-US).
    SY65240T Interfaz de prueba

    SY65240T Interfaz de prueba

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