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Dedos de prueba articulados y no articulados según IEC 61032

Ningún producto: SMT-TB11

  • Especificaciones
  • Aplicaciones
  • Los dedos de prueba articulados y los dedos de prueba no articulados son sondas de prueba de precisión fabricadas de acuerdo con la Figura 2 (Sonda de prueba B) y la Figura 7 (Sonda de prueba 11) del IEC61032Se utilizan para simular un dedo humano utilizado por las normas IEC, CSA, IRAM, UL etc.

    1) Dedo de prueba articulado IEC 2 (sonda de prueba B de IEC61032): LISUN modelo es SMT-IP20T
    Diámetro de la sonda de prueba: 12 mm
    Longitud de la sonda de prueba: 80 mm
    Grosor de la placa deflectora: 20 mm
    Diámetro de la placa deflectora: 50 mm
    Longitud de la placa deflectora: 100 mm

    2) Dedo de prueba no articulado IEC 7 (sonda de prueba 11 de IEC61032): LISUN modelo es SMT-1175
    Diámetro de la sonda de prueba: 12 mm
    Longitud de la sonda de prueba: 80 mm
    Grosor de la placa deflectora: 5 mm
    Diámetro de la placa deflectora: 50 mm

    Estándar:
    IEC 61032 “Protección de personas y equipos mediante envolventes – Sondas para verificación”

    Dedo de prueba articulado IEC 2 (sonda de prueba B de IEC61032)

    Dedo de prueba no articulado IEC 7 (sonda de prueba 11 de IEC61032)

    Etiquetas:
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