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Dedo de prueba articulado y no articulado con norma IEC 61032

Ningún producto: SMT-TB11

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  • Descripción
  • El dedo de prueba articulado y el dedo de prueba no articulado es una sonda de prueba de precisión fabricada de acuerdo con la Figura 2 (Sonda de prueba B) y la Figura 7 (Sonda de prueba 11) de la IEC61032 se utiliza para simular un dedo humano, utilizado por los estándares de IEC, CSA, IRAM, UL, etc.

    1) Dedo de prueba articulado IEC 2 (sonda de prueba B de IEC61032):LISUN modelo es SMT-1175
    Diámetro de la sonda de prueba: 12 mm
    Longitud de la sonda de prueba: 80 mm
    Grosor de la placa deflectora: 20 mm
    Diámetro de la placa deflectora: 50 mm
    Longitud de la placa deflectora: 100 mm

    2) Dedo de prueba no articulado IEC 7 (sonda de prueba 11 de IEC61032):LISUN modelo es SMT-IP20T
    Diámetro de la sonda de prueba: 12 mm
    Longitud de la sonda de prueba: 80 mm
    Grosor de la placa deflectora: 5 mm
    Diámetro de la placa deflectora: 50 mm

    Dedo de prueba articulado IEC 2 (sonda de prueba B de IEC61032)

    Dedo de prueba no articulado IEC 7 (sonda de prueba 11 de IEC61032)

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