Número de producto: GNGPL-3610-2PA
El dispositivo de prueba de presión de alta temperatura GNGPL-3610-2PA cumple con IEC 60884-1:2022 Cláusula 30.1 Figura 41 (GB/T 2099.1-2021 Cláusula 30.1 Figura 41) e IEC 60811-3-1:2020 Cláusula 8 Figuras 1, 2 y 3 (GB/T 2951.31-2008 Cláusula 8 Figuras 1, 2 y 3). Es adecuado para la prueba de resistencia térmica del aislamiento y de la cubierta de enchufes con cubiertas aislantes, cables/cables ópticos con un diámetro mayor a 0.4 mm.
Principio de prueba: Utilice una cuchilla redonda o rectangular de 0.7 mm de espesor para aplicar una cierta gravedad a la muestra en un entorno de alta temperatura, mida la profundidad de sangría después de la prueba y así lograr la detección de la resistencia a altas temperaturas de la muestra.
Estándar:
IEC 60884-1 (GB/T 2099.1) “Enchufes y tomas de corriente para usos domésticos y similares – Parte 1: Requisitos generales” Cláusula 30.1 Figura 41
IEC 60811-3-1 (GB/T 2951.31) “Métodos de ensayo comunes para materiales de aislamiento y revestimiento de cables eléctricos – Parte 3: Métodos específicos para compuestos de PVC – Sección uno: Ensayo de presión a alta temperatura – Ensayos de resistencia al agrietamiento”
Especificación:
| LISUN Modelo | GNGPL-3610-2PA | GNGPL-3610-3PA |
| Estación de trabajo | 2 estaciones de trabajo | 3 estaciones de trabajo |
| Espada | 1 hoja rectangular y 1 hoja redonda de Φ6 | 3 piezas de cuchillas rectangulares |
| grosor de la hoja | 0.7 ± 0.01mm | |
| Pesos | Pesas de 2.5 N (contiene el peso de la cuchilla): 2 piezas | Pesas de 1 a 1 kg: 3 series |
| La temperatura de calentamiento | 200℃ o temperatura según el cable especificado (Trabajar junto con LISUN Cámara de alta temperatura GW-225) | |
| Tiempo de prueba | 2h | Prueba D≤15 mm durante 4 h; prueba D>15 mm durante 6 h |
| Tiempo de transición de enfriamiento | Miles | Se puede utilizar el método de rociado de agua fría con enfriamiento rápido. |
| juicio calificado | Profundidad directa menor o igual al 50% | El valor medio de la profundidad de sangría es menor o igual al 50% del valor medio del espesor de la muestra. |
| De acuerdo a las normas | IEC 60884-1 Cláusula 30.1 Figura 41 | IEC 60811-3-1 Cláusula 8 Figuras 1, 2 y 3 |

IEC 60884-1 Figura 41 Aparato de prueba para prueba previa a alta temperatura