¿Qué es el sistema de prueba de parpadeo?

A CIE TN006-2016 Certificado CIE SVM sistema de prueba de parpadeo. Los armónicos y los analizadores de parpadeo utilice fuentes de corriente alterna (CA) con clasificaciones de corriente máxima de hasta 3 segundos e impedancias de fuente bajas. Con su diseño de procesador dual y núcleo multitarea, el sistema también permite un monitoreo continuo y una medición precisa en tiempo real.

¿Qué es la prueba de parpadeo?
Esta técnica de prueba se utiliza para determinar el grado en que los sistemas de iluminación producen parpadeo, que pueden constar de los siguientes componentes: lámparas, fuentes de luz, transformadores, balastos o controladores y controladores de atenuación.
El procesamiento de señales se utiliza para deshacerse de los componentes de alta frecuencia por encima de la frecuencia de corte.

Descripción
Los transitorios en armónicos y parpadeos se pueden detectar y controlar mediante analizadores de armónicos y parpadeos. Las redes eléctricas son vulnerables a las perturbaciones eléctricas como el parpadeo y los armónicos. Las corrientes alternas pueden causar fluctuaciones de voltaje mínimas en el suministro principal a través de su interacción con la impedancia de la red.
Las bombillas incandescentes producen parpadeo debido a las fluctuaciones en la salida de luz. La distorsión en la fuente de alimentación provoca armónicos porque hace que las cargas consuman una corriente que no es perfectamente sinusoidal. El sobrecalentamiento de cables y transformadores puede resultar de armónicos si no se mitiga.
Es posible detectar y corregir problemas causados ​​por fluctuaciones eléctricas como parpadeo y armónicos con la ayuda de una solución de prueba especializada.

Combinaciones de equipos
Los resultados de las pruebas que se evaluaron con este enfoque son únicos para cada combinación de lo siguiente:
1) Fuente de iluminación con atenuador apropiado; o
2) Lámpara de bajo voltaje junto con un ejemplo de un transformador representativo y, si se requiere, un ejemplo de un atenuador de ejemplo; o
3) Fuente de luz con un control de atenuación apropiado (si se requiere uno); alternativamente:
4) La fuente de luz junto con un controlador representativo y, si se requiere, un control de atenuación representativo; o
5) Fuente luminosa acompañada de un balasto de representación y un regulador de intensidad representativo (si corresponde).
Para simular una carga mayor para el control o el transformador, varias unidades de la unidad bajo prueba con fuentes de luz idénticas y balastos o controladores, según corresponda, se conectarán al mismo circuito y se les dará la señal de control. Las lecturas de parpadeo de un atenuador de corte de fase con una bombilla incandescente de voltaje de línea deben tomarse como indicativas para ese atenuador con dicha luz.
Las mediciones de parpadeo tomadas con un atenuador de corte de fase que regula un transformador para luces incandescentes de bajo voltaje deben tomarse como típicas exclusivamente de esa combinación de atenuador/transformador/lámpara.
Todas las fuentes de luz no incandescentes controladas por un atenuador de corte de fase tendrán el mismo parpadeo medido si usan el mismo atenuador de corte de fase, balasto, controlador y bombilla. Estos hallazgos son específicos para la configuración probada de atenuador, balasto, controlador y bombilla.
La medición del parpadeo de fuentes de luz controladas por control de portadora de línea eléctrica, inalámbrica, digital o de 0 a 10 voltios es específica de esa combinación de un tipo de control y balasto o controlador y lámpara. Esto se debe a que el parpadeo es causado por una interacción entre el balasto o controlador y la lámpara.
Los resultados de las pruebas realizadas en la combinación de lámpara y balasto o controlador pueden extrapolarse para ser utilizados con otros sistemas que utilicen otro control del mismo tipo (0-10 voltios, digital, etc.) para proporcionar la señal de control.

¿Cómo se produce el parpadeo?
Los dispositivos LED a menudo exhiben parpadeo debido a la arquitectura específica de la fuente de luz. Esta es la causa del parpadeo. También es posible que se origine en el entorno natural, como el sol que parpadea entre varias cosas mientras la persona conduce.
Sistema de prueba de parpadeo es un tipo de modulación de luz temporal (TLM), que puede afectar significativamente la dinámica de una escena y el rendimiento de una cámara o sensor. El parpadeo también puede cambiar sustancialmente la apariencia de una imagen.

Requisitos del equipo de prueba
Recinto de prueba: Para verificar que la luz medida proviene exclusivamente de la UUT, el contenedor de prueba no deja entrar ninguna luz ambiental (unidad bajo prueba). El recipiente de prueba debe poder mantener una temperatura de 25 grados centígrados, más o menos 5 grados, y se deben hacer preparativos para ello.
Dispositivo para recopilar datos: La forma de onda de la salida de luz debe monitorearse utilizando un fotodetector que tenga un tiempo de subida de no más de 10 microsegundos, junto con un amplificador de transimpedancia y un osciloscopio.
Es posible utilizar un sistema de medición diferente siempre que pueda realizar las mismas funciones y mantener el mismo nivel de precisión que el aparato requerido.
Las funciones de capacidad de respuesta temporal, amplificación y filtrado del sistema deben diseñarse para registrar datos fotométricos a intervalos de 50 microsegundos o menos, lo que equivale a una tasa de registro de datos de no menos de 20 kHz, y debe ser capaz de registrar al menos un segundo de datos.

Condiciones de prueba de parpadeo
Configuración del cableado del producto: El cableado de los balastos fluorescentes debe cumplir con las especificaciones en el proceso de prueba de eficiencia luminosa.
Preacondicionamiento del producto: Se requieren al menos cien horas de "condición" (funcionamiento de potencia máxima) de todas las bombillas fluorescentes antes de que pueda comenzar la prueba. Otros niños de la lámpara no necesitan ser experimentados.
Potencia de entrada: La potencia de entrada de la UUT (unidad bajo prueba) debe estar en el voltaje y la frecuencia primarios nominales, dentro del 0.5% para ambos. Los balastos clasificados con varios voltajes primarios solo deben usarse al voltaje especificado para su uso principal. El voltaje debe verse como una sinusoide y su distorsión armónica total (THD) no debe ser superior al 3%.
Temperatura: La temperatura debe mantenerse a 25 grados centígrados.
Niveles de atenuación: Los niveles de luz al 100 %, 20 % y el nivel de atenuación más bajo deben medirse dentro del 2 % de sus respectivas salidas de luz completa, con una salida de luz completa del 100 % definida como el funcionamiento de la fuente de luz en su configuración más brillante permitida por el control.
Cuando se mide el parpadeo, es mejor medir con el nivel de luz más bajo posible, que suele ser superior al 20 % del máximo. Los niveles de atenuación para las pruebas de balastos fluorescentes se pueden determinar utilizando la potencia del arco de la lámpara como sustituto de la salida de luz real.

Procedimiento de la Prueba
Luz de lámpara: La salida de luz de la lámpara debe regularse antes de que pueda tomar cualquier medida en diferentes niveles de atenuación. Si la diferencia entre dos mediciones consecutivas realizadas a intervalos de un minuto no supera el 0.5 %, la salida de luz se considera estable.
Intervalo de grabación: Los datos que se han medido deben registrarse en un archivo digital con un intervalo entre cada medición de no más de 0.00005 segundos (50 microsegundos), lo que corresponde a una tasa de medición de la herramienta de no menos de 20 kHz. Además, debe capturar al menos un segundo de datos.
Registre las mediciones de iluminación (en velas-pie o voltios) del equipo de prueba después de que las bombillas se hayan estabilizado para cada grado de atenuación. La brecha entre las lecturas no debe ser superior a 50 microsegundos. Estas mediciones deben documentarse durante la prueba con una duración mínima de un segundo.
LISUN  proporciona el mejor sistema de prueba de parpadeo del mundo.

La importancia de probar el parpadeo
El parpadeo de la luz puede afectar a casi todos los sectores que dependen de cámaras y sensores, aunque su manifestación es más notoria en los sectores del automóvil y la seguridad. Debido a la naturaleza dinámica de los lugares en los que operan estos negocios, no es raro que haya luces parpadeantes.
Esto se debe a diferentes condiciones de iluminación. Sin embargo, para garantizar un gran rendimiento y seguridad, los sistemas de cámara y sensores deberán poder adaptarse a las numerosas condiciones que puedan surgir. Para evitar una condición potencialmente peligrosa para los conductores, un sistema como un LSRF-3 sistema de prueba de parpadeo siempre debe responder adecuadamente, incluso cuando la luz parpadea de manera inconsistente.

Caracteristicas
Aquí encontrará algunas de las mejores características del sistema de prueba de parpadeo.

PC no requiere
Sin necesidad de una computadora personal, puede realizar una variedad de procedimientos de prueba utilizando solo este dispositivo. Estos procedimientos incluyen el establecimiento de condiciones de prueba, la realización de pruebas, la comparación de los resultados de las pruebas con los valores límite y la generación de informes de resultados. En la pantalla del dispositivo, los resultados de aprobación/rechazo y los datos del espectro se muestran en tiempo real. Puede crear un sistema de prueba intuitivo en el que el panel de control de este aparato pueda servir como consola principal.

Pantalla fácil de ver y medición en tiempo real
El equipo de prueba de parpadeo. LSRF-3 Tiene una pantalla de cristal líquido TFT a color. Podrás obtener una rápida comprensión del estado actual del EUT gracias a la representación gráfica que proporciona de los diferentes datos. Además, tiene una función de medición en tiempo real que permite al usuario crear y modificar condiciones de prueba mientras se realiza la medición.
En muchos sistemas de prueba tradicionales, medir y determinar si algo pasa o falla se trata como dos procesos independientes y, a menudo, lleva algún tiempo antes de que se proporcionen los resultados de la prueba.
Por otra parte, LSRF-3 le permite ver el impacto de su esfuerzo de prueba y error en el circuito en tiempo real y al mismo tiempo modificar los criterios de juicio. Esto hace que localizar y resolver problemas durante la etapa de desarrollo sea un proceso sencillo.

Fácil configuración de condiciones de prueba
Es sencillo configurar los ajustes de prueba que son adecuados para el equipo que se está evaluando (EUT). Puede almacenar las circunstancias de prueba establecidas en un archivo, lo que simplifica la ejecución de pruebas con la misma configuración repetidamente.
Además, puede reutilizar las condiciones de prueba guardadas para pruebas adicionales, modificando algunos de los parámetros. En situaciones como cuando desea realizar pruebas en numerosos EUT con configuraciones idénticas, esto proporciona una configuración rápida de condiciones para la prueba. Además de eso, ayuda a reducir los errores cometidos al establecer las condiciones.

Conexión fácil
La fuente de alimentación y los terminales de carga están claramente separados entre sí. Debido a que los terminales están dispuestos de esta manera, no tendrá que preocuparse por cometer un error de conexión que pueda provocar un cortocircuito. No debería sorprender que también se proporcione detección de voltaje para los terminales de carga. El LSRF-3 sistema de prueba de parpadeo está diseñado para ser fácil de usar sin dejar de ser ampliable.

Compatibilidad con la comprobación de la repetibilidad de las pruebas
Puede verificar si el margen de error está dentro del rango aceptable comparando los datos de medición que acaba de adquirir con los datos de medición que ha recopilado anteriormente.
La evaluación de la "repetibilidad", que es necesaria para verificar el cumplimiento de armónicos, se puede ayudar con el uso de esta función.

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Nuestros principales productos son: Gonofotómetro, Esfera integradora, Espectrorradiómetro, Generador de sobretensiones, Pistolas de simulación ESD, Receptor EMI, Equipo de prueba de EMC, Probador de seguridad eléctrica, Cámara ambiental, cámara de temperatura, Cámara climática, Cámara Térmica, Prueba del spray de sal, Cámara de prueba de polvo, Prueba impermeable, Prueba de RoHS (EDXRF), Prueba de alambre incandescente y Prueba de llama de aguja.

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